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压敏电阻冲击电流作用下的老化机理
冲击电流作用下主要是热老化。能量迅速注入电阻片,温度升高很多,使离子的能量大为增加,迁移力增大,使反偏压侧的Zni,Bi3+等向晶界迁移。
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老化的表现:
老化是指在各种外加应力及外界因素作用下,其性能及电气物理参数发生改变,逐步偏离其起始性能指标。ZnO压敏电阻器老化后的I-V特性,老化主要集中在预击穿区,而击穿区的老化较小,表现为I-V特性曲线在低电场区向右偏移,阻性电流加大,功率损耗增大,压敏电压下降。直流电压作用后的老化,I-V特性不对称;交流电压作用下的老化。另老化后电容量减小,介电损耗增大。
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